E. Stolarski "Miernictwo tranzystorowe"

Państwowe Wydawnictwa Techniczne, wydanie pierwsze,
Warszawa, 1961

1. Zagadnienia ogólne (11)
Pomiary podstawowe. Pomiary określające właściwości wzmacniające małej i wielkiej częstotliwości tranzystora.
2. Ogólne uwagi dotyczące pomiarów (34)
3. Pomiary charakterystyk statycznych tranzystorów (39)
Zdejmowanie charakterystyk statycznych metodą "punkt po punkcie". Metoda impulsowa (oscyloskopowa).
4. Pomiary parametrów statycznych (57)
Pomiary napięć maksymalnych. Pomiary prądów zerowych. Pomiar napięcia nasycenia (szczątkowego). Pomiar zwarciowego współczynnika wzmocnienia dla prądu stałego.
5. Pomiar parametrów cieplnego układu zastępczego tranzystora (62)
6. Metody pomiaru parametrów tranzystorów oparte na zasadzie graficznej, na pomiarze przyrostów napięć i prądów stałych lub pomiarze napięć i prądów zmiennych o małej amplitudzie i małej częstotliwości (70)
Metoda graficzna. Metoda przyrostów prądów lub napięć stałych. Pomiary macierzy parametrów [r], [g] i [h] przy małych częstotliwościach i małych sygnałach. Pomiary parametrów tranzystorów przy małej częstotliwości i małych sygnałach metodami mostkowymi.
7. Pomiar parametrów przy dużych sygnałach i małej częstotliwości (tranzystory mocy) (103)
8. Pomiar tranzystorów wielkiej częstotliwości (108)
Pomiar parametrów czwórnikowych. Pomiary elementów "fizycznego" schematu zastępczego tranzystorów. Pomiary współczynnika wzmocnienia prądowego w funkcji częstotliwości. Pomiary parametrów roboczych.
9. Pomiary parametrów w funkcji częstotliwości lub punktu pracy (155)
Badanie zależności parametrów tranzystora od częstotliwości. Badanie zależności parametrów tranzystora od punktu pracy.
10. Pomiar szumów tranzystora (162)
Pomiar współczynnika szumów przy użyciu generatora drgań sinusoidalnych. Pomiar współczynnika szumów przy użyciu generatora szumów.
11. Pomiar parametrów tranzystorów impulsowych (173)

[spis książek]

© 2000-2002 FonAr Sp. z o.o. e-mail: waw@fonar.com.pl